Аннотация
УДК 537.226.621.315
Разработаны устройства для использования при высоких температурах многоточечного тензометрирования на базе новых кристаллов TlIn1-xPrxSe2 (0 ≤ x ≤ 0,04), позволяющие повысить производительность и надежность результатов измерений при многоточечной тензометрии.
Ключевые слова: многоточечная тензометрия, фотоэлектрические свойства, направленная деформация, звуковой зонд.