Просмотр «Устройства для многоточечного тензометрирования на базе кристаллов TlIn 1‑x Pr x Se 2 » | ЭЛЕКТРОННАЯ ОБРАБОТКА МАТЕРИАЛОВ

← Устройства для многоточечного тензометрирования на базе кристаллов TlIn<sub>1‑x</sub>Pr<sub>x</sub>Se<sub>2</sub>