Особенности релаксационных параметров кварца разного типа при динамическом наноиндентировании

Аннотация

УДК 538.9:538.951

DOI  https://doi.org/10.52577/eom.2026.62.1.43

Исследованы кристаллы SiO2 разного типа: монокристаллические (α-SiO₂), поликристаллические (р-SiO₂) и аморфные, или стеклообразные, (а-SiO₂) с целью выявить влияние структурной формы на изменение релаксационных параметров при динамическом наноиндентировании. Для всех исследованных образцов было отмечено, что параметры релаксации зависят от типа образца и проявляют закономерное возрастание с увеличением нагрузки на индентор. Детальное изучение релаксационных параметров (h_e, h_e-p и h_res) позволило определить механизмы пластического деформирования кварца разного типа при наноиндентировании. Компьютерная визуализация рельефа поверхности вокруг отпечатков подтвердила участие ротационно-трансляционного механизма деформирования кристаллов SiO2 разного типа в образовании отпечатков твердости. Показано, что ротационный механизм вносит больший вклад при индентировании кварца в интервале малых нагрузок (Р = 10–50 мН), а вклад трансляционного механизма возрастает с увеличением нагрузки (Р = 100–500 мН) и при переходе в ряду α-SiO₂ → р-SiO₂ → а-SiO₂.

Ключевые слова: кварц разного типа: монокристаллический, поликристаллический и аморфный (стеклообразный); динамическое наноиндентирование; релаксационные параметры, механизмы деформации.