Аннотация
УДК 541.123:54621
DOI https://doi.org/10.5281/zenodo.2629548
Проведено исследование поверхности тонких пленок медьсодержащего полиакрилонитрила (ПАН) методом атомно-силовой микроскопии. Плотность распределения по высоте профиля поверхности была проанализирована методом мультифрактального детрендированного флуктуационного анализа (МФДФА). В качестве параметров для этого анализа использовались фрактальная размерность, корреляционная размерность, скейлинговый показатель, показатель Херста (Н). Исследование поверхности тонких пленок медьсодержащего ПАН методом МФДФА подтвердило предположение о мультифрактальности поверхности. Технологические особенности получения пленок определяют повторяемость встречаемости структур разной фрактальной размерности по поверхности пленок, что отражается на показателе Херста. Перегиб на мультифрактальном спектре присутствует в тех случаях, когда пленки обладают газочувствительностью с коэффициентом S = 0,35 и более.
Ключевые слова: тонкие пленки, полиакрилонитрил, теория самоорганизации, мультифрактальный флуктуационный анализ.