Устройства для многоточечного тензометрирования на базе кристаллов TlIn1-xPrxSe2
Том 49 № 6 (2013), Содержание
Том 49 № 6 (2013)

Устройства для многоточечного тензометрирования на базе кристаллов TlIn1-xPrxSe2

Г. А. Мамедов
Азербайджанский технический университет, пр. Г. Джавида, 25, г. Баку, Аз-1000, Азербайджанская Республика, e-mail: geldar-04@mail.ru
Э. М. Годжаев
Азербайджанский технический университет, пр. Г. Джавида, 25, г. Баку, Аз-1000, Азербайджанская Республика, e-mail: geldar-04@mail.ru
К. Д. Гюльмаммедов
Азербайджанский технический университет, пр. Г. Джавида, 25, г. Баку, Аз-1000, Азербайджанская Республика, e-mail: geldar-04@mail.ru
М. Т. Дадашов
Азербайджанский технический университет, пр. Г. Джавида, 25, г. Баку, АЗ-1000, Азербайджанская Республика, e-mail: geldar-04@mail.ru
В. Д. Рустамов
Гянджинский государственный университет, пр. Шах Исмайыла Хатаи, 187, г. Гянджа, Aз-2000, Азербайджанская Республика

Аннотация

Разработаны устройства для использования при высоких температурах многоточечного тензо- метрирования на базе новых кристаллов TlIn1-xPrxSe2(0 ≤ x ≤ 0,04), позволяющие повысить про- изводительность и надежность результатов измерений при многоточечной тензометрии.

Ключевые слова: многоточечная тензометрия, фотоэлектрические свойства, направленная деформация, звуковой зонд.

УДК 537.226.621.315

article_23