Аннотация
УДК 621.9
Электроосаждение цинк-никелевых сплавов с использованием кадмия в качестве катализатора проводилось гальваностатически на низкоуглеродистой (мягкой) стали, с добавлением желатина и глицерина. Изучено влияния кадмия на свойства цинк-никелевой ванны с точки зрения содержания никеля и устойчивости к коррозии покрытий из сплавов цинк-никель-кадмий. Циклическая вольтамперометрия была главным методом при анализе процесса и продуктов электролиза при различных концентрациях кадмия и других добавок. С помощью спектрометрии и энергорассеивающего рентгеновского анализа было изучено влияние плотности тока на содержание никеля. Осаждение было выполнено при концентрации кадмия в пределах 0,004–0,1M. Как оказалось, скорость коррозии покрытий из цинк-никелевого сплава значительно снижается при добавлении кадмия. Однако, следует отметить, что такое снижение скорости коррозии происходит только при определенных концентрациях кадмия, то есть вплоть до концентрации 0,02M, а при более высокой величине эта скорость остается неизменной. Все попытки изменить тип совместного осаждения из нетипичного в типичный путем изменения молярного соотношения ионов металла, то есть [Cd2+]/[Ni2+] как 0,01; 0,05 и 0,25 оказались безрезультатными. С помощью циклической вольтамперометрии удалось показать важную роль кадмия, то есть его избирательную адсорбцию при совместном осаждении ионов Zn+2 и Ni+2, результатом чего стало увеличение содержания никеля в сплаве. Химический состав и рабочие характеристики цинк-никелевой ванны были оптимизированы для получения однородных светлых покрытий из сплава Zn-Ni-Cd. Для анализа морфологии поверхности покрытий из сплава Zn-Ni с добавлением никеля был использован метод рентгеновской дифракции, (XRD), а сканирующая электронная микроскопия (SEM) позволила исследовать фазовую структуру таких покрытий. В работе представлены результаты экспериментов, проведенных для установления роли кадмия при совместном осаждении покрытий из Zn-Ni сплавов.
Ключевые слова: сплав Zn-Ni-Cd, глицерин, исследование коррозии, рентгеновская дифракция (XRD), сканирующая электронная микроскопия (SEM).